Ehdotuksen tiedot

Tunnus:prEN ISO 16526-1
Julkaisija:CEN
Komitea:CEN/TC 138
Komitean nimi:Non-destructive testing
Lausuntokierros alkanut:2019-09-16
Lausuntopyynnön määräaika:2019-11-24
Vastuuhenkilö:Mika.Vartiainen(at)metsta.fi
Ehdotuksen soveltamisala:ISO 16526-1:2011 specifies a method for the direct and absolute measurement of the average high voltage of constant potential (DC) X-ray systems on the secondary side of the high voltage generator. The intention is to check the correspondence with the indicated high voltage value on the control unit of the X-ray system.This method is applied to assure a reproducible operation of X-ray systems because the voltage influences particularly the penetration of materials and the contrast of X-ray images and also the requirements concerning the radiation protection.

Rekisteröidyttyäsi Lausuntopyyntöpalvelun käyttäjäksi voit lukea standardiehdotuksia ja kommentoida niiden sisältöä.

Kun haluat kommentoida lukemaasi tekstiä, valitse Lue ehdotus ja anna muutosehdotuksesi kohdassa Jätä kommentti.

Voit myös kertoa mielipiteesi standardiehdotuksesta kokonaisuutena. Ota kantaa siihen, hyväksytkö standardiehdotuksen vahvistamisen standardiksi.